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・形態観察
走査型電子顕微鏡 SEM
合成されたナノ粒子のサイズや形状を観察します。
日立ハイテク S-4800 (山口研)
透過型電子顕微鏡 TEM
合成されたナノ粒子のサイズや形状を観察します。
日立ハイテク H-8100 (北本研)
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